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열적 부하를 통한 PCB 변형률 측정 실험(반도체 칩, Strain, Stress, Crack, Thermal Loading, DIC) 본문

기초이론/DIC(Digital Image Correlation)

열적 부하를 통한 PCB 변형률 측정 실험(반도체 칩, Strain, Stress, Crack, Thermal Loading, DIC)

FAMTECH 2023. 10. 13. 15:00

 

목차

     

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    Printed Circuit Board (PCB) Measurement+Thermal Loading

    그림1

     

    시험 구성은 위와 같습니다. 변형률(Strain) 및 Crack 상태를 확인할 PCB를 올려 놓고 히트건(Thermal Loading)으로 열을 가합니다. 그리고 전 후 상태를 2개의 정밀 카메라를 통해 3D로 촬영합니다.

     

    이때 이미지 분석은 팜테크(FAMTECH)에서 제공하는 CSI사의 VIC-3D로 진행합니다. 이와 같은 기술을 DIC라고 합니다. DIC는 "Digital Image Correlation"의 약자로, 디지털 이미지 상호 비교를 의미합니다. 이 기술은 이미지 처리 및 컴퓨터 비전 기술을 사용하여 물체의 표면에 생기는 변형이나 변화를 정량적으로 분석하는 데 사용됩니다. DIC는 주로 물체의 형태, 움직임 및 변형을 이해하고 측정하기 위해 활용됩니다.

     

    PCB느 주로 두 가지 주요 기능을 가지고 있습니다. 첫 번째로, PCB는 기판 상의 단자 간의 전기 연결을 제공합니다. 두 번째로, PCB는 저항, 캐패시터, 마이크로칩과 같은 전자 부품을 납땝(Soldering)을 통해 고정시킵니다. PCB는 작고 가벼운 디자인으로 제작되어 다양한 전자 기기에 사용되며, 스마트 워치, 휴대폰, 컴퓨터, 디지털 카메라 등 거의 모든 전자 기기에서 찾아볼 수 있습니다.

    이 응용 사례에서는 PCB 및 해당 부품에 열적 부하를 가하고 결과를 분석합니다. PCB 산업에서는 정상 조건에서 제품이 예상대로 작동하는지 확인하기 위해 열적 부하 테스트를 주로 수행합니다. PCB에 부착된 각 종 반도체 소자 및 납땝은 다른 크기의 CTE(Coefficient of Thermal Expansion)을 가지기 때문에 열에 의해 파손 가능성이 있습니다.

    그림1는 VIC-3D 디지털 이미지 상호 비교 시스템이 어떻게 구성되었는지를 보여줍니다. 이 시스템은 5 메가픽셀 카메라와 35mm 렌즈로 PCB와 그에 부착된 부품을 관찰합니다. 열 부하는 기판의 반대쪽에서 열건으로 가해집니다. DIC 데이터는 FOV(Field of View)의 크기를 대략적으로 58mm x 39mm x 6mm로 나타냅니다. 테스트는 거의 1시간 동안 진행되었으며 온도는 화씨 350도를 초과했습니다. 

     

     

     

    위 그림에서 왼쪽은 Out of Plane 방향의 변위(W)를 나타냅니다. 오른쪽은 In Plane의 Y 방향의 변위 값을 나타냅니다. 이를 통해 칩의 이동을 확인할 수 있습니다.

     

     

    라그란지안 변형률(Lagrangian Strain)의 평균은 700 ~ 4000 microstrain 정도이고 납땝 부분과 파트 부분의 분리해서 확인하면 Thermal Loading에 의한 영향을 확인할 수 있습니다. 

     

     

     

    DIC (Digital Image Correlation)는 재료 특성을 평가하는 데 사용되며, 이는 Young의 탄성계수, Poisson의 비율, 유리 전이 온도(Tg), 및 열 팽창 계수(CTE)와 같은 정보를 얻을 수 있습니다. 이는 PCB 라미네이트와 같은 후보 재료를 평가할 때 유용합니다. 또한, 패키지와 PCB 간의 CTE 불일치로 인한 열 기계적 손상으로 인한 솔더 피로 문제를 파악할 때 CTE 측정이 도움이 됩니다.

    또한, PCB와 부품의 휘어짐은 리플로우 솔더링(Reflow Soldering) 중에 주로 걱정되는 문제입니다. 과도한 휘어짐은 연결 형성이 나쁘게 이루어지거나, 솔더 조인트가 다리 모양으로 연결되거나, 부품이 깨질 수 있습니다. DIC를 사용한 휘어짐 측정은 리플로우 중 휘어짐이 문제로 작용하는 경우를 파악하거나 후보 부품 및 보드 라미네이트를 비교하는 데 도움이 됩니다.

    또한, DIC 테스트는 재료 특성과 같은 유한 요소 해석(FEA) 입력을 특성화하고, 시뮬레이션 결과를 확인하는 데 사용될 수 있습니다. 변형 게이지는 지역적인 변형 값을 제공하며 복잡한 조립체나 부하 조건에서 발생하는 문제적인 변형 영역을 놓칠 수 있습니다. 따라서 전체 영역 변위 및 변형 맵은 FEA 결과와 더 포괄적인 비교를 가능하게 합니다.

     

     

     

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